MCP imaging test 4
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開始行:
[[RIKEN TEST WORK]]
*Amp out picture- MCP-front,x1,y2 [#sa815ccd]
&ref(./20100908-2.gif,50%);
&ref(./20100908-3.gif,50%);
&ref(./20100908-4.gif,50%);
&br;
すべて:青MCPF、水色X1、桃色Y2,いずれもアンプ反転出力。Y面の方がX面よりも外側。
&br;
電圧を変化させるごとに、信号の性質も変化しているようだ。すべて#107のときのもの。
*目的・方法 [#a049f8e4]
-β線源(Sr90, 1MBq @ 2008/2/28)をMCP表面中心上方15cmの位置に配置。全面に照射することで、均一な二次元イメージを取得できるようにしたい。先のstudyによって電圧のバランス、特にMCPのバイアス電圧によって検出効率の一様性が大きくかわることがわかっている。そこで、各コンポーネントにあたえる電圧のバランスを変化させて、検出数の一様性の変化を調べる。
*状況 [#jdf6b40e]
-Imaging test 3のときと、MCPの位置,線源の状況は変化していない。
-印加電圧:300, 2600,2500,2650,2700V (front, holder,back,reference,collection)から初めて、バイアス電圧、ワイヤー電圧、スレッショルドをスキャンする
-threshold : ワイヤー -50mV全て(波高の50%程度)MCP 175,250,375
*結果 [#e10679d5]
&ref(./run_0075_3d.gif,50%);
&ref(./run_0110_3d.gif,50%);
*定格での、h,r,cバランス(#106 , #107, #108, #109) [#o01879bc]
*メモ書き [#y32084df]
-ランシート
|#run|MCPf[V]|MCPb[V]|Holder[V]|Ref.w[V]|Coll.w[V]|MCPf.Th[mV]|X1.Th[mV]|X2.Th[mV]|Y1.Th[mV]|Y2.Th[mV]|ADCdata|Note|
|#0074|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-65|w/o||
|#0075|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-65|w/o||
|#0076|300|2500|2650|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-65|w/o||
|#0077|300|2500|2550|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-65|w/o||
|#0078|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o||
|#0079|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|junk|
|#0080|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|test|
|#0081|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|test|
|#0082|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0083|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0084|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0085|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0086|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0087|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0088|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0089|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|TDC ch swap test.Y1 TDCch 2->4, Y2 TDCch 3->5|
|#0090|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|TDC ch swap end.Y1 TDCch 4->2, Y2 TDCch5->3 ,junk|
|#0091|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|Y2 delay, 62ns -> 46ns, fix|
|#0092|300|2600|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.3kV,680Hz|
|#0093|300|2600|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|retake #0092,680Hz|
|#0094|300|2650|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.35kV,550Hz|
|#0095|300|2650|2600|2700|2710|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.35kV,550Hz,ref/col valance:#0094|
|#0096|---|----|----|----|----|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|Rate scan(*1)|
|#0097|250|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.25kV,700Hz|
|#0098|200|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.3kV,660Hz|
|#0099|200|2400|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.2kV,400Hz, bias fix and MCPf down|
|#0100|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.2kV,400Hz, same as #0074,#0075.reproduce|
|#0101|300|2600|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.3kV,retake #0092,700Hz|
|#0102|300|2600|2650|2700|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.3kV,+50V on anodes,680Hz. contain pedestal|
|#0103|300|2650|2650|2700|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.35kV,comp.w.#102,?Hz.|
|#0104|300|2650|2650|2725|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.35kV,ref.anode Vol. changed.comp.w.#103,680Hz.|
|#0105|300|2650|2700|2725|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.35kV,comp.w.#104,anode holder V changed. 570Hz.|
|#0106|300|2700|2700|2725|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,comp.w.#105,450Hz.|
|#0107|300|2700|2700|2750|2800|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,comp.w.#105,450Hz.|
|#0108|300|2700|2700|2800|2850|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,comp.w.#105,450Hz.signal shape|
|#0109|300|2700|2700|2850|2900|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,comp.w.#105,450Hz.|
|#0110|300|2700|2700|2850|2900|-250|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,500Hz.|
|#0111|300|2700|2700|2850|2900|-375|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,650Hz.|
|#0112|300|2700|2700|2900|2950|-375|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,650Hz.|
|#0113|300|2700|2700|2900|2950|-250|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,525Hz.|
|#0114|300|2700|2700|2900|2950|-250|-25|-25|-25|-25|w|bias 2.4kV,525Hz.|
|#0115|300|2700|2700|2900|2950|-375|-25|-25|-25|-25|w|bias 2.4kV,625Hz.|
|#0116|300|2700|2700|2900|2950|-375|-100|-100|-100|-100|w|bias 2.4kV,625Hz.|
|#0117|300|2700|2700|2900|2950|-375|-200|-200|-200|-200|w|bias 2.4kV,625Hz.|
|#0118|300|2700|2700|2900|2950|-500|-200|-200|-200|-200|w|bias 2.4kV,700Hz.|
|#0119|300|2700|2700|2900|2950|-500|-300|-300|-300|-300|w|bias 2.4kV,700Hz.|
|#0120|300|2700|2700|2900|2950|-500|-300|-300|-300|-300|w|bias 2.4kV,700Hz.junk|
|#0121|300|2700|2700|2950|3000|-175|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,450Hz|
|#0122|300|2700|2700|2975|3000|-175|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,450Hz|
|#0123|300|2700|2700|2925|3000|-175|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,450Hz|
|#0124|300|2700|2700|2950|3000|-375|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,650Hz|
|#0125|300|2700|2800|2950|3000|-375|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,650Hz|
**Voltage scan [#rbd7478c]
-base
#0091
-delay - offset problem
#0080,0081
-ref voltage scan
--#103(2700),#104(2725) @ 2.35kV bias
--#121(2950),#122(2975),#123(2925)@2.4kV bias
-collection voltage scan
-ref/col v scan
--#0094(2650,2700),#0095(2700,2710)@2.35kV bias th = base
-h, ref/col v scan
--#101(2600,2650,2700),#102(2650,2700,2750) @ 2.3kV bias th=base
--#94(2600,2650,2700),#103(2650,2700,2750) @ 2.35kV bias th=base
-holder voltage scan
--#0075(2600),#0076(2650),#0077(2550) bias2.2kV th=base
--#0104(2650),#0105(2700) bias 2.35kV th = base
--#0124(2700),#0125(2800) bias 2.4kV check threshold of MCPf(-375mV)
*データセット [#m7559593]
**定格バイアス2.4kVでのデータセット [#z39555ca]
-r/c voltage (収集効率)
--#106(r,c=2725,2750),#107(2750,2800),#108(2800,2850),#109(2850,2900),th=base
-MCPf th scan(energy v.s. 収集効率, tdc-adc相関)
--#109(-175mV),#110(-250mV),#111(-375mV)
--#117(-375mV),#118(-500mV)::wire th -200mV
--#123(-175mV),#124(-375mV)::wire -50mV
-Wire th scan(energy)
--#112(-50mV),#115(-25mV),#116(-100mV),#117(-200mV),f th -375mV
--#113(-50mV),#114(-25mV),f th=-250mV
---上の2つのデータセットで、電圧は同じ
-Holder voltage(電場整形)
--#124(2700V),#125(2800V), f th=-375mV wire -50mV
-ref voltage(収集効率)
--#121(2950),#122(2975),#123(2925) fth -175mV, wire-50mV
**bias2.35kVでのデータセット (th = base) [#gcfef62d]
-h/r/c scan
--#0094(2600,2650,2700),#0103(2650,2700,2750)
-h/r/c balance
--#0103(2650,2700,2750),#0105(2700,2725,2750)
-r/c scan
--#0094(2650,2700),#0095(2700,2710) where h 2600
-r scan
--#0103(2700),#0104(2725) where c 2750 , h2650
**bias2.3kVでのデータセット(th=base) [#o0c69a22]
-h/r/c scan
--#101(2600,2650,2700),#102(2650,2700,2750) th = base
**bias 2.2kVでのデータセット(th=base)(#0078=#0100) [#b5d6e359]
-front voltage scan
--#0097(250),#0098(200),#0100(300)=base
-holder voltage scan
--#0076(2650),#0077(2550),#0078(2600)=base
-front-back voltage scan
--#0099(200-2400),#0100(300-2500)=base
*メモ2 [#d8bf6592]
-表裏問題:sumの値(中央値のみ)adcの値(小さい)
**aaaaa [#qbd764f3]
-TDC histo X1 to Y2
-TDC v.s. ADC X1 to Y2
-X1-X2 and Y1-Y2
-run 107 :: TDC distribution shows almost symmetrical shape. 300/2700/2700/2750/2800
-run 121 :: 300.2700.2700.2950.3000 -> almost same tendency
-run 127 ( same condition as run 121, retake(put Al mesh)) -> asymmetrical line shape.
&br;
-図
--上左 surf map of run0075 (bias 2.2kV)
--上中 surf map of run0110 (bias 2.4kV)
*sum -sub split structure [#i4f03b84]
終了行:
[[RIKEN TEST WORK]]
*Amp out picture- MCP-front,x1,y2 [#sa815ccd]
&ref(./20100908-2.gif,50%);
&ref(./20100908-3.gif,50%);
&ref(./20100908-4.gif,50%);
&br;
すべて:青MCPF、水色X1、桃色Y2,いずれもアンプ反転出力。Y面の方がX面よりも外側。
&br;
電圧を変化させるごとに、信号の性質も変化しているようだ。すべて#107のときのもの。
*目的・方法 [#a049f8e4]
-β線源(Sr90, 1MBq @ 2008/2/28)をMCP表面中心上方15cmの位置に配置。全面に照射することで、均一な二次元イメージを取得できるようにしたい。先のstudyによって電圧のバランス、特にMCPのバイアス電圧によって検出効率の一様性が大きくかわることがわかっている。そこで、各コンポーネントにあたえる電圧のバランスを変化させて、検出数の一様性の変化を調べる。
*状況 [#jdf6b40e]
-Imaging test 3のときと、MCPの位置,線源の状況は変化していない。
-印加電圧:300, 2600,2500,2650,2700V (front, holder,back,reference,collection)から初めて、バイアス電圧、ワイヤー電圧、スレッショルドをスキャンする
-threshold : ワイヤー -50mV全て(波高の50%程度)MCP 175,250,375
*結果 [#e10679d5]
&ref(./run_0075_3d.gif,50%);
&ref(./run_0110_3d.gif,50%);
*定格での、h,r,cバランス(#106 , #107, #108, #109) [#o01879bc]
*メモ書き [#y32084df]
-ランシート
|#run|MCPf[V]|MCPb[V]|Holder[V]|Ref.w[V]|Coll.w[V]|MCPf.Th[mV]|X1.Th[mV]|X2.Th[mV]|Y1.Th[mV]|Y2.Th[mV]|ADCdata|Note|
|#0074|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-65|w/o||
|#0075|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-65|w/o||
|#0076|300|2500|2650|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-65|w/o||
|#0077|300|2500|2550|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-65|w/o||
|#0078|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o||
|#0079|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|junk|
|#0080|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|test|
|#0081|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|test|
|#0082|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0083|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0084|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0085|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0086|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0087|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0088|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|junk|
|#0089|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|TDC ch swap test.Y1 TDCch 2->4, Y2 TDCch 3->5|
|#0090|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|TDC ch swap end.Y1 TDCch 4->2, Y2 TDCch5->3 ,junk|
|#0091|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|Y2 delay, 62ns -> 46ns, fix|
|#0092|300|2600|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.3kV,680Hz|
|#0093|300|2600|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|retake #0092,680Hz|
|#0094|300|2650|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.35kV,550Hz|
|#0095|300|2650|2600|2700|2710|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.35kV,550Hz,ref/col valance:#0094|
|#0096|---|----|----|----|----|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|Rate scan(*1)|
|#0097|250|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.25kV,700Hz|
|#0098|200|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.3kV,660Hz|
|#0099|200|2400|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.2kV,400Hz, bias fix and MCPf down|
|#0100|300|2500|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w/o|bias 2.2kV,400Hz, same as #0074,#0075.reproduce|
|#0101|300|2600|2600|2650|2700|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.3kV,retake #0092,700Hz|
|#0102|300|2600|2650|2700|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.3kV,+50V on anodes,680Hz. contain pedestal|
|#0103|300|2650|2650|2700|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.35kV,comp.w.#102,?Hz.|
|#0104|300|2650|2650|2725|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.35kV,ref.anode Vol. changed.comp.w.#103,680Hz.|
|#0105|300|2650|2700|2725|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.35kV,comp.w.#104,anode holder V changed. 570Hz.|
|#0106|300|2700|2700|2725|2750|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,comp.w.#105,450Hz.|
|#0107|300|2700|2700|2750|2800|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,comp.w.#105,450Hz.|
|#0108|300|2700|2700|2800|2850|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,comp.w.#105,450Hz.signal shape|
|#0109|300|2700|2700|2850|2900|-175|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,comp.w.#105,450Hz.|
|#0110|300|2700|2700|2850|2900|-250|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,500Hz.|
|#0111|300|2700|2700|2850|2900|-375|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,650Hz.|
|#0112|300|2700|2700|2900|2950|-375|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,650Hz.|
|#0113|300|2700|2700|2900|2950|-250|-50|-40|-50|-50|w|bias 2.4kV,525Hz.|
|#0114|300|2700|2700|2900|2950|-250|-25|-25|-25|-25|w|bias 2.4kV,525Hz.|
|#0115|300|2700|2700|2900|2950|-375|-25|-25|-25|-25|w|bias 2.4kV,625Hz.|
|#0116|300|2700|2700|2900|2950|-375|-100|-100|-100|-100|w|bias 2.4kV,625Hz.|
|#0117|300|2700|2700|2900|2950|-375|-200|-200|-200|-200|w|bias 2.4kV,625Hz.|
|#0118|300|2700|2700|2900|2950|-500|-200|-200|-200|-200|w|bias 2.4kV,700Hz.|
|#0119|300|2700|2700|2900|2950|-500|-300|-300|-300|-300|w|bias 2.4kV,700Hz.|
|#0120|300|2700|2700|2900|2950|-500|-300|-300|-300|-300|w|bias 2.4kV,700Hz.junk|
|#0121|300|2700|2700|2950|3000|-175|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,450Hz|
|#0122|300|2700|2700|2975|3000|-175|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,450Hz|
|#0123|300|2700|2700|2925|3000|-175|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,450Hz|
|#0124|300|2700|2700|2950|3000|-375|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,650Hz|
|#0125|300|2700|2800|2950|3000|-375|-50|-50|-50|-50|w|bias 2.4kV,650Hz|
**Voltage scan [#rbd7478c]
-base
#0091
-delay - offset problem
#0080,0081
-ref voltage scan
--#103(2700),#104(2725) @ 2.35kV bias
--#121(2950),#122(2975),#123(2925)@2.4kV bias
-collection voltage scan
-ref/col v scan
--#0094(2650,2700),#0095(2700,2710)@2.35kV bias th = base
-h, ref/col v scan
--#101(2600,2650,2700),#102(2650,2700,2750) @ 2.3kV bias th=base
--#94(2600,2650,2700),#103(2650,2700,2750) @ 2.35kV bias th=base
-holder voltage scan
--#0075(2600),#0076(2650),#0077(2550) bias2.2kV th=base
--#0104(2650),#0105(2700) bias 2.35kV th = base
--#0124(2700),#0125(2800) bias 2.4kV check threshold of MCPf(-375mV)
*データセット [#m7559593]
**定格バイアス2.4kVでのデータセット [#z39555ca]
-r/c voltage (収集効率)
--#106(r,c=2725,2750),#107(2750,2800),#108(2800,2850),#109(2850,2900),th=base
-MCPf th scan(energy v.s. 収集効率, tdc-adc相関)
--#109(-175mV),#110(-250mV),#111(-375mV)
--#117(-375mV),#118(-500mV)::wire th -200mV
--#123(-175mV),#124(-375mV)::wire -50mV
-Wire th scan(energy)
--#112(-50mV),#115(-25mV),#116(-100mV),#117(-200mV),f th -375mV
--#113(-50mV),#114(-25mV),f th=-250mV
---上の2つのデータセットで、電圧は同じ
-Holder voltage(電場整形)
--#124(2700V),#125(2800V), f th=-375mV wire -50mV
-ref voltage(収集効率)
--#121(2950),#122(2975),#123(2925) fth -175mV, wire-50mV
**bias2.35kVでのデータセット (th = base) [#gcfef62d]
-h/r/c scan
--#0094(2600,2650,2700),#0103(2650,2700,2750)
-h/r/c balance
--#0103(2650,2700,2750),#0105(2700,2725,2750)
-r/c scan
--#0094(2650,2700),#0095(2700,2710) where h 2600
-r scan
--#0103(2700),#0104(2725) where c 2750 , h2650
**bias2.3kVでのデータセット(th=base) [#o0c69a22]
-h/r/c scan
--#101(2600,2650,2700),#102(2650,2700,2750) th = base
**bias 2.2kVでのデータセット(th=base)(#0078=#0100) [#b5d6e359]
-front voltage scan
--#0097(250),#0098(200),#0100(300)=base
-holder voltage scan
--#0076(2650),#0077(2550),#0078(2600)=base
-front-back voltage scan
--#0099(200-2400),#0100(300-2500)=base
*メモ2 [#d8bf6592]
-表裏問題:sumの値(中央値のみ)adcの値(小さい)
**aaaaa [#qbd764f3]
-TDC histo X1 to Y2
-TDC v.s. ADC X1 to Y2
-X1-X2 and Y1-Y2
-run 107 :: TDC distribution shows almost symmetrical shape. 300/2700/2700/2750/2800
-run 121 :: 300.2700.2700.2950.3000 -> almost same tendency
-run 127 ( same condition as run 121, retake(put Al mesh)) -> asymmetrical line shape.
&br;
-図
--上左 surf map of run0075 (bias 2.2kV)
--上中 surf map of run0110 (bias 2.4kV)
*sum -sub split structure [#i4f03b84]
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